针对航空国防高性能应用以及航空高可靠性集成电路和分立器件国产化研制需求，突破和解决大气中子辐照单粒子诱发软错误故障评价、晶须生长安全性风险评价、高可靠长寿命评价等关键技术难题，形成一套覆盖航空特殊应用环境的考核要求，形成具有自主知识产权的新型试验评价方法和技术规范要求，为高可靠、长寿命航空装备提供集成电路全面的质量控制考核要求，填补国内空白，提高航空电子设备用集成电路和分立器件质量控制水平，加快完善航空电子设备用高可靠集成电路和分立器件质量评价体系，全面指导研制单位科学有效地开展航空用器件高可靠设计、生产、筛选、评价，推动研制单位及时开展航空电子设备用百万门级FPGA、CPU、SOC、DSP、存储器、功率器件的抗中子辐照、抗晶须生长和长寿命研制补课，促进形成“高性能航空级集成电路与分立器件”，对支撑新一代高可靠、高安全航空电子设备用集成电路和分立器件的适航认证工作具有重大战略意义。