制定本标准的目的是为国内航空电子系统设计人员、电子设备、元器件制造商及他们的客户提供航空电子产品大气辐射影响数据应用、单粒子效应试验和试验结果评估的标准方法和要求.

大气中以及飞机内部的离子化辐射环境会影响使用在航空电子设备中的电子元器件，其主要环境影响类型为单粒子效应(SEE)，包含了由辐射的单个元素反应引起的所有对电子元器件的潜在影响，如单粒子翻转(SEU)、单粒子瞬变(SET)、单粒子烧损(SEB)等.从19世纪90年代初期开始，单粒子效应已经在使用在飞机上的电子设备中被观察到.单粒子效应对航空电子设备的危害已引起业内广泛重视，依据国际航空电子设备故障经验，商用航空电子设备不能复现的故障中约20%归因于单粒子效应.相关研究表明，2003年前制造的特征尺寸大于200nm的静态随机存取储存器(SRAM)的多位翻转率很小，随着SRAM特征尺寸减小到150nm，多位翻转率增加到约40%，而当特征尺寸下降到35nm，多位翻转率将达到100%.同时，随着电子设备集成程度的提高，质子直接电离、μ介子直接电离等大气辐射环境影响也将更加显著，将对航电设备的可靠使用带来更加严重的不利影响.

目前，美国、法国等国已经将大气辐射影响列为了航空元器件研制的设计考虑因素，并在元器件采购、航空电子系统设计过程中通过对已有数据的分析，或者开展单粒子效应试验来评估航空电子产品对大气辐射环境的适应能力.而在我国航空电子产品的研制中，还没有考虑大气辐射环境的影响.随着我国航空工业的发展和对航空电子产品使用可靠性要求的不断提高，将大气辐射影响纳入设计要求并开展相应的检测、试验和评价工作势在必行.然而目前我国还缺乏相关标准来引领和规范该领域相关工作的开展，急需借助国际先进标准的转化来填补我国在航空电子产品单粒子效应试验方法上的标准缺失.