在光学元件反射率方面，国际标准化组织ISO于2001年出版了ISO 15368:2001《光学和光学仪器 平面元件表面反射率和平行平面冤案透过率测量》，规定了基于分光光度技术的光学元件反射率和透过率测量方法，其典型重复性测量精度为+—0.1%。2006年出版的ISO 13697:2006《光学和光子学 激光器和激光相关设备 激光光学元件反射率和透过率测试方法》，其最高反射率重复性测量精度可达+—0.01%，但方法构型复杂，标定困难，可操作性不强。

      针对快速发展的高反射率测量及标准化需求，2015年国际标准化组织出版发行了ISO 13142:2015 《电子光学系统 光腔衰荡高反射率测量技术》，主要针对高反射率（大于等于90%）的测量。该标准是对国际标准ISO进行的修改采用，基于光腔衰荡技术系统地规定了高反射率的测量方法。