该课程系统的介绍了锑化铟单晶性能检测方面的两个国家标准，分别是《GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法》以及《GB/T 11297.7-1989 锑化铟单晶电阻率及霍尔系数测量方法》。课程中介绍了锑化铟材料的性质及应用领域等背景，并且详细解读了标准中对于锑化铟单晶位错蚀坑，电阻率及霍尔系数的测量用样品制备、测量原理以及测量方法等知识。在样品制备以及测量中的注意事项也进行了讲解，目的是让大家能够对锑化铟这种半导体材料以及其单晶材料测试标准能够有一定的认识。