本标准对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行⁶⁰Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序，是用于评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法（时变效应）；标准主要针对空间相关的应用，仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照；试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，为破坏性试验。