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解读标准：
课程简介：
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该课程系统的对6项标准进行解读
序号 | 标准编号 | 标准名称 | 公告号 | |
1 | GB/T 45719-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验 | 2025年 第13号 | |
2 | GB/T 45716-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 | ||
3 | GB/T 45722-2025 | 半导体器件 恒流电迁移试验 | ||
4 | GB/T 45721.1-2025 | 半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验 | ||
5 | GB/T 45720-2025 | 半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验 | ||
6 | GB/T 45718-2025 | 半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿（TDDB）试验 |
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会